高分辨X射线相位衬度台式成像系统

inCiTe™是世界首款采用由KA Imaging独家开发的高空间分辨率非晶硒（a-Se）探测器（BrillianSe™）专有技术的三维（3D）X射线显微镜(XRM)。BrillianSe™ X射线探测器具有高空间分辨率和高检测效率，可在便携式、台式系统中实现快速相衬成像和传统MicroCT（微米CT，计算机断层扫描）成像。标配5μm X射线源，可选2μm X射线源。应用领域：✔无损检测(NDT)；✔农业；✔增材制造；✔地质；✔电子产品；✔临床前成像；✔标本X射线摄影

相衬技术，更高对比度
相位对比成像是对传统的吸收对比X射线成像的补充。对于具有较弱X射线吸收的材料，传统X射线成像技术自然导致图像对比度低。在这种情况下，基于X射线相位变化的相衬成像灵敏度要比吸收衬度成像灵敏度高得多。inCiTe™ 3D X射线显微镜通过X射线束的自由传播（同轴相衬成像方式）直接实现相位对比，将物体的X射线相位变化转换为探测器上的X射线强度变化。基于传播（无光栅）的相衬X射线成像使具有较弱X射线吸收特征的检测性能得以数量级的提高。

全新技术探测器
BrillianSe™ X射线探测器提供了独特的组合，使用8μm像素的高空间分辨率和高探测量子效率（DQE），适用于高达120keV的能量探测。这种组合使得在低通量和高能量下能够进行高效成像，同时也能够通过传播（无光栅）相衬增强，以提高对低密度材料成像时的灵敏度。BrillianSe™ X射线探测器具有1600万像素（16M）。

✔适用于同步加速器应用

✔无光栅相衬效率更高

✔更快扫描时间

✔大视野 32mmx32mm

直接转换探测器
BrillianSe™的混合a-Se/CMOS探测器采用高固有空间分辨率的a-Se光电导体，直接将X射线光子转换为电荷。由低噪声的CMOS有源像素传感器（APS）读取电子信号，无需先将X射线光子转换为可见光（这在基于间接闪烁体的方法中是必需的），无需减薄转换层以最小化光散射。

低密度材料的更好可视化
KA imaging专业研发和生产的inCiTe™X射线成像系统，适用于科研和工业无损检测(NDT)等场景，尤其适合探测生物、聚合物等低密度、弱X射线吸收材料。应用案例包括但不限于：钛种植体、小鼠膝关节组织、肾结石、药物胶囊、电子器件、法兰绒、芳纶等复合材料、轻质骨料混凝土等。

友好的用户界面
inCiTe 3D X射线显微镜采集软件具有直观的图形用户界面，支持新手和专家用户。系统快速启动，用户首次通电后不到20分钟即可扫描样品。inCiTe 3D X射线显微镜不需要任何样品制备，如造影剂、染色或薄切片。

简化的工作流程
工作流程：装载样品、调整扫描几何形状以获得在所需放大倍率下最快的扫描、校准探测器、检查样品对齐、开始扫描采集图像。

高质量图像_从收集到重构
在图像采集之后，需要将采集的投影图重建为切片图，以便将切片组合成一个完整重构图像，这可使用三维重构软件完成。

应用场景举例

✔表征材料微观结构

✔对现有零件几何形状进行逆向工程

✔验证或校准仿真工作流

✔应用到NDT(无损检测)和GD&T(几何尺寸和公差)检验方案

✔监控生产过程

✔确定问题的根本原因